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#하앤유-특허

하앤유 특허 등록 성공사례 II ”QFN 자재 레이저 디플래쉬를 위한 검사 방법” 특허권 등록 반도체칩, 리드프레임, 트리밍 특허 출원

by 하앤유 특허법률사무소2026.02.13조회수 75

 

 

 

 

 

 

”QFN 자재 레이저 디플래쉬를 위한 검사 방법”

 

 

 

 

하앤유특허법률사무소에서

특허등록을 성공했습니다.

축하드립니다.

 

 

 

 

 

 

본 발명은 QFN 패키지 리드프레임에 형성된 몰드 플래쉬의

제거 대상 영역을 사전 설정하고,

해당 위치에 선택적으로 레이저를 조사함으로써

국부 가공 정밀도와 공정 효율을 동시에 확보합니다.

이에 따라 화학 약품 사용에 따른 환경 부담을 저감하면서도

생산 라인에 적용 가능한 경제적이고

친환경적인 디플래쉬 공정을 구현합니다. 

 

 

 

 

 

 

 

 

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발명의 목적

 

본 발명의 해결하고자 하는 과제는,

화학 약품을 사용하지 않고

리드프레임의 플래쉬를 검사 및 제거할 수 있는 목적을 갖는다.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

하앤유 특허법률사무소


특허 전문 변리사가 출원 기획 단계부터 직접 참여하여


발명의 핵심 기술과 효과를 정확히 짚고,


심사 과정에서 거절 가능성을 최소화하는 전략을 세웁니다.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

특히 다양한 산업 분야에서

 

축적된 방대한 특허 등록사례 경험을 바탕으로


선행기술 분석, 권리범위 설정, 의견서 대응까지


실제 등록 가능성을 중심으로 전략을 수립합니다.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

또한 출원 타이밍이 중요한 만큼


지식재산처(KIPO)까지의

 

서류 접수를 신속하게 진행하여


출원일 확보와 권리 선점을 빠르게 돕고 있습니다.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

국내 특허는 물론

 

해외 특허 출원 및 등록 경험도

 

다수 보유하고 있어

 


글로벌 사업을 준비하는 기업·개인 발명가 모두에게

 

안정적인 선택지가 됩니다.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

전국 어디에서든


하앤유와 함께라면 치밀한 전략으로

 

특허 권리를 확보할 수 있습니다.
 

 

 

 

 

 

 


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